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電阻表(biao)智(zhi)能回路電阻測試(shi)(shi)儀采用開(kai)關(guan)電源(yuan)(yuan)技(ji)術(shu)，能長時間(jian)連續輸出大電流，克服了脈沖式(shi)電源(yuan)(yuan)瞬(shun)間(jian)電流的弊(bi)端，可以有效的擊穿開(kai)關(guan)觸(chu)頭氧化膜，得到(dao)良好的測試(shi)(shi)結果

回路電阻測試儀久益電力測試電流來自高精度開關式恒流電源，無需人(ren)工調節，測試迅速(su)準確

回(hui)路(lu)電阻測(ce)試(shi)儀四級承試(shi)測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控制自動實(shi)施，精度(du)高，復測(ce)性好，單按鍵(jian)操作，簡單易行，測(ce)試(shi)數據液晶顯示，結(jie)果打(da)印。適用于不同的(de)工作環境。

久益200A智能回路(lu)電阻測(ce)試儀測(ce)試過程全(quan)部由(you)單片控制自動實施，精度高，復測(ce)性好，單按(an)鍵操作，簡單易行，測(ce)試數據液晶顯示，結果打(da)印。適用于(yu)不同的工作環境。

智能(neng)型高(gao)精度回路(lu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀適用(yong)于測(ce)(ce)試(shi)(shi)高(gao)低壓開關的(de)主觸頭接觸電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值，高(gao)低壓電(dian)(dian)(dian)纜線(xian)路(lu)的(de)直流(liu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)值等(deng)。采用(yong)100A恒流(liu)輸出。zui高(gao)輸出電(dian)(dian)(dian)壓達10V可(ke)采用(yong)載面細的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)線(xian)，大大減輕了現場測(ce)(ce)試(shi)(shi)人員的(de)勞動(dong)強度。測(ce)(ce)試(shi)(shi)過程全(quan)部由單(dan)片控制自動(dong)實施，精度高(gao)，復測(ce)(ce)性好，簡單(dan)易行，測(ce)(ce)試(shi)(shi)數據液晶(jing)顯示(shi)，結(jie)果(guo)打(da)印。

回路(lu)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)資(zi)質電(dian)(dian)力設(she)備(bei)電(dian)(dian)力部標準SD301—88《交流(liu)500KV電(dian)(dian)力設(she)備(bei)交接和(he)(he)預防性(xing)試(shi)驗(yan)(yan)規(gui)(gui)程》和(he)(he)新版《電(dian)(dian)力設(she)備(bei)預防性(xing)試(shi)驗(yan)(yan)規(gui)(gui)程》作出(chu)對斷路(lu)器、隔離開關接觸(chu)電(dian)(dian)阻(zu)的測(ce)量電(dian)(dian)流(liu)不(bu)小于直流(liu)100A的規(gui)(gui)定，以確(que)(que)保試(shi)驗(yan)(yan)結果準確(que)(que)。

廠(chang)家供應回路電阻測試儀具有體(ti)積小(xiao)、重量輕、抗干擾能力強(qiang)、精(jing)度(du)高、操作(zuo)方便、保(bao)護功(gong)能完善等特點(dian)

電力承試五(wu)級回路電阻(zu)測量(liang)(liang)儀具有體積(ji)小、重量(liang)(liang)輕、抗(kang)干(gan)擾能(neng)力強、精度高、操作方便、保護功能(neng)完善(shan)等特點(dian)

100A回路電阻測試儀報價采用新開(kai)關電源技術，能長時間連續輸出大電流，克服(fu)了脈沖(chong)式電源瞬間電流的(de)弊(bi)端，可以(yi)有效的(de)擊穿開(kai)關觸(chu)頭氧化(hua)膜，得到良(liang)好的(de)測試結果。

高(gao)精(jing)度開(kai)關100A回路電(dian)(dian)(dian)(dian)阻測試儀采用新開(kai)關電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)技術，能(neng)長時間連續輸出大電(dian)(dian)(dian)(dian)流，克服了脈沖式(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)瞬間電(dian)(dian)(dian)(dian)流的弊(bi)端，可(ke)以有效的擊穿開(kai)關觸(chu)頭氧化膜(mo)，得到良好(hao)的測試結果(guo)。